Zautomatyzowane testowanie elektroniki cyfrowej jest nieodzowne, bo w miarę wzrostu integracji trzeba zakładać coraz większą liczbę błędów na raz. Gdy prof. Janusz Rajski w 2013 odbierał doktorat honorowy od Politechniki Poznańskiej był u szczytu swojej kariery z dorobkiem publikacyjnym ćwierć tysiąca artykułów naukowych.